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產(chǎn)品型號：
所屬分類：內(nèi)徑檢測儀
產(chǎn)品時間：2024-09-11
簡要描述：日本issoku光學非接觸式小直徑內(nèi)徑測量儀IDM-30EX/100EX任何人都可以立即以高精度和高速度進行測量[易于與EX系統(tǒng)對齊。校準環(huán)規(guī)和剪刀規(guī)的理想選擇。]
日本issoku光學非接觸式小直徑內(nèi)徑測量儀IDM-30EX/100EX
任何人都可以立即以高精度和高速度進行測量
[易于與EX系統(tǒng)對齊。校準環(huán)規(guī)和剪刀規(guī)的理想選擇。]
特點
1.測量速度快
IDM沒有砧座。使用測針在工件壁上反射的光進行測量。可以期望得到非常準確的測量結(jié)果，而對測量值的影響很小。
更換工件時，無需更改設(shè)置。
由于可以高精度地進行內(nèi)部校準，因此可以減少向外部請求的時間和成本。
使用IDM溫度，工作溫度和線性熱膨脹系數(shù)，它將自動轉(zhuǎn)換為20°C的測量值。無需擔心溫度控制，即可進行順暢的測量。
溫度對測量值誤差的影響很小，并且可以降低可追溯問題的風險。
主要測量示例：
環(huán)規(guī)，剪刀規(guī)，軸承，模具，光纖連接器，注塑件等。
測量示例
IDM可以在高度和厚度的任何位置測量內(nèi)徑。
測量應用示例
不僅可以測量環(huán)規(guī)，還可以測量孔距，垂直度和錐度。它也可以應用于方孔和狹縫，并且
可以以相同的方式測量外徑和外部寬度，因此可以用于各種目的，例如內(nèi)徑和外徑的同軸度。?
小直徑內(nèi)徑測量儀器IDM是一種光學非接觸式測量儀器，可以處理各種測量。
-除了測量環(huán)的內(nèi)徑外，它還可用于孔間距，直角度，錐度，方孔和狹縫。另外，由于可以測量外徑和外部寬度，所以同軸度測量也是可能的。
-可用于客戶擁有的母盤規(guī)的內(nèi)部校準。?
日本issoku光學非接觸式小直徑內(nèi)徑測量儀IDM-30EX/100EX
-可以從小φ0.1毫米到大Φ100毫米進行測量。
?分辨率0.01μm（可選）
?。非接觸式測量不會損壞工件。
-易于對準，無需任何測量技術(shù)。
-配有溫度補償系統(tǒng)，它會自動轉(zhuǎn)換為20°C時的測量值。
